成本控制

深入解析芯片量产测试成本构成，聚焦 CP 晶圆测试与 FT 成品测试覆盖率平衡及测试时间优化方案。提供专业测试策略分析，助力半导体企业降低测试成本，提升良率与生产效率，实现量产效益最大化。涵盖测试向量压缩、并行测试技术及成本模型分析。